六安仪器计量检测，器具-校正-校准

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大理石平台作为一种基准测量工具，对仪器表，精密工具，机械制件进行检验，大理石平台在长时间使用后有时会产生磨损，导致精度下降，那么影响大理石平台精度的因素主要有哪些呢？
1、温度
温度对大理石平台精度有很大影响，大理石平板不适宜放在阳光下或床头箱上，因为花岗岩平台量具温度升高后，量不出正确尺寸。更不要把大理石测量平台放在热源（如电炉，热交换器等）附近，以免使花岗石平台量具受热变形而失去精度。所以说，注意在使用大理石平台时要在恒温的车间里使用。
2、安装大理石平台
安装大理石平台也至关重要，如果水平精度不好将会对大理石平台的检验造成误差。大理石平台精度和安放平台的环境温度也有影响，大理石检验平台在使用时，环境温度尽量是恒温。
3、隔震
隔震是主要的检验要素，如果在安装后的大理石平台用数显水平仪检测出现读数不确定，数字停止不下来，会造成只能按照一等的检验标准去检测，无形降低了一个等级。

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尘埃粒子计数器注意事项
1、当入口管被盖住或被堵塞，不要启动计数仪
2、激光尘埃粒子计数器应该在洁净环境下使用，以防止对激光传感器的损伤
3、不要测有可能产生反应的混合气体（如氢气和氧气）。这此气体也可能在计数器内产生爆炸。测这些气体需与厂家联系为取得更多的信息。
4、没有高压减压设备（如高压扩散器）不要取样压缩空气，所有的颗粒计数仪被设计用于在一个大气压下操作。
5、水，溶液或其它液体都不能从入口管进入传感器。
6、颗粒计数仪主要用来测试净化车间干净的环境，当测的地方有松散颗粒的材质，灰尘源，喷雾处时，须少保持距进口管至少十二英寸远。以免以上的颗粒及液体污染传感器及管路。
7、取样时，避免取样从计数器本身排出来的或被计数器出来的气体所污染的气体。
8、在连接外置打印机或连接外接温湿度传感器时，需先关掉计数器；当执行打印操作时，打印机上须有打印纸，否则会损伤打印头。

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粒子计数器是一种利用光的散射原理进行尘粒计数的仪器。光散射和微粒大小、微粒折射率、光波波长及微粒对光的吸收特性等因素有关。但是就散射光强度和微粒的大小而言，有一个基本的规律，就是微粒散射光的强度随着微粒的表面积增加而增大。这样一定流量的含尘气体通过一束强光，让粒子发射出散射光，经过聚光透镜投射至光电倍增管上，把光脉冲变为电脉冲，由脉冲数可求得颗粒数。根据粒子散射光的强度和粒径的函数关系可以得出粒子直径。这样只要测定出散射光的强度就可以推知微粒的大小，这就是光散射式粒子计数器的基本原理。

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尘埃粒子计数器操作方法
不同型号的深圳尘埃粒子计数器，在操作界面方面和功能方面会有一些差别，但基本的操作步骤都是差不多的：
1.打开电源预热。
2.设置工作参数，如果和上次一样那么不需要更改，具体的按键操作可参考每台仪器的产品介绍。注意在采样状态下，设置是无效的。
3.设置完成后，即可开始采样测定，读取出数据。
4.连接打印机，将数据导出打印出来，一些有内置打印机的产品可以直接打印出来。

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产品特点：
1、可切换孔径（Ci64），灵活性更高
2、状态LED灯提供实时视觉反馈
3、内置NetProfiler仪器和性能
4、高分辨率彩色液晶显示屏，易于查看和读取
5、通过蓝牙（于开通蓝牙协议的国家）可与其他系统组件进行无线通信
6、通过USB可与QC或QA系统连接
7、可使用远程测量触发按键，测量更便捷
8、人体工学设计，握持更平滑更舒适
9、可校正的UV（仅Ci64UV）提高对含有增亮剂样本的准确性
10、内置TransForm优化与现有爱色丽仪器质检的*性
11、于爱色丽SP系列仪器通用的可翻转测量底座，与SP系列样品放置方式相同
12、可靠的止动锁
产品优势
准确测量各种产品和包装类型的反光或不平整表面、或包含光学剂的材料。
审核跟踪多个设备和位置的色彩质量，确保供应链中色彩的一致性和的完整性。
可存储多达4000个参考样本，以便快速访问现有数据。
选配充电器为第二块电池充电时，可不间断正常使用Ci64便携式分光测色仪，延长仪器作业时间。
可通过连接NetProfiler网络校正软件远程确定和优化测量作业，无论是否连接PC，用户都可通过应用更正来改善测量性能。

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仪器校准公司测距模式有精测模式、跟踪模式、粗测模式三种。精测模式是常用的测距模式，测量时间约2.5S，小显示单位1mm；跟踪模式，常用于跟踪移动目标或放样时连续测距，小显示一般为1cm，每次测距时间约0.3S；粗测模式，测量时间约0.7S，小显示单位1cm或1mm。在距离测量或坐标测量时，可按测距模式（MODE）键选择不同的测距模式。应注意，有些型号的全站仪在距离测量时不能设定仪器高和棱镜高，显示的高差值是全站仪横轴中心与棱镜中心的高差。坐标测量设定测站点的三维坐标。设定后视点的坐标或设定后视方向的水平度盘读数为其方位角。当设定后视点的坐标时，全站仪会自动计算后视方向的方位角，并设定后视方向的水平度盘读数为其方位