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X射线测厚仪膜厚仪XRF仪器

更新时间:2025-03-23 13:55:43 编号:ed1bn89o73b361
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  • 金属镀层分析仪,X荧光光谱仪,X荧光分析仪,XRF仪器

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孙经理

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产品详情

X射线测厚仪膜厚仪XRF仪器

关键词
膜厚仪,天瑞仪器,天瑞光谱仪,测厚仪
面向地区

元素范围从硫到铀分析时间30秒分析误差3%镀层范围0.005~50微米

软件界面
人性化的软件界面,让操作变得更加便捷。
曲线的中文备注,让您的操作更易上手。
仪器硬件功能的实时监控,让您的使用更加放心。

镀层测厚仪在使用前为减少测量的误差,可以进行简单的调零。用附送的铝或者铁调零板调零即可。调零方法:
1、将探头垂直按压在调零板中间的位置,保持探头的稳定。
2、按下按键,屏幕会提示压紧探头,再根据提示把探头提起15cm以上。
3、屏幕显示0.0则调零完毕。
4、完成后,可以把有标准值的测试片放在调零板上测量。测量的数值与标准测试片的误差范围之内,则说明仪器可以正常使用了。

镀层测厚仪有两种开机使用方法。一种是探头在测试过程中自动触发开机,并且直接显示出测量结果。这是因为采用了数字探头,非常的灵敏,会自动识别出测量基材,并且快速自动转换。
还有一种是按键开机。开机仪器会显示探头型号,两种不同量程的探头可供客户选择。

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公司资料

江苏天瑞仪器股份有限公司
  • 刘召贵
  • 江苏 苏州
  • 股份有限公司(上市)
  • 2006-07-04
  • 人民币461760000万
  • 500-999
  • 涂层检测仪
  • 镀层测厚仪,rohs检测仪器,手持式光谱仪,土壤重金属检测仪
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